Vous êtes ici : Accueil > SL-DRT-24-0404

Theses

SL-DRT-24-0404

Publié le 7 décembre 2023
SL-DRT-24-0404
DomaineNano-caractérisation avancée

Domaine-SElectronique et microélectronique - Optoélectronique

ThèmeDéfis technologiques

Theme-SSciences pour l’ingénieur

Domaine de recherche
Nano-caractérisation avancée Défis technologiques Electronique et microélectronique - Optoélectronique Sciences pour l’ingénieur DRT DCOS SCCS LCEF Grenoble
Intitule du sujet
Capteurs MEMS en régime chaotique pour amplification de la résolution
Résumé du sujet
L'amélioration de la résolution des capteurs MEMS s'obtient toujours par une augmentation du cout du composant (surface) ou de son électronique (complexité et conso). Au vu des enjeux actuels de sobriété énergétique, il est essentiel d'explorer de nouvelles voies disruptives permettant de réduire les impacts liés à la haute performance des capteurs. Le chaos est un phénomène déterministe exponentiellement sensible aux faibles variations. Peu étudié jusqu’à récemment, il peut s’implémenter de façon simple dans la dynamique des capteurs MEMS, afin d'amplifier les faibles signaux et d'augmenter la résolution. Il s’agit in fine d’une méthode de "in-sensor computing", permettant de s’affranchir d’une partie de l’électronique de mesure. L’objectif de la thèse sera de créer le premier démonstrateur MEMS de "in-sensor computing" en régime chaotique. Pour ce faire, nous proposons d’étudier, par un travail approfondi de caractérisation/modélisation, ce nouveau régime de fonctionnement des capteurs MEMS déjà disponibles au DCOS/LICA (poutres M&NEMS et MUT). Ces premiers pas dans la compréhension du lien entre mesurande et réponse d'un MEMS en régime chaotique permettront de se projeter ensuite sur d’autres applications, notamment dans le domaine de la cryptographie.
Formation demandée
Ingénieur physique appliquée ou en micro et nanotechnologie Direction de la Recherche Technologique
Informations
Département Composants Silicium (LETI) Service Caractérisation, Conception et Simulation Laboratoire Caractérisation Electrique et Fiabilité
Université/école doctorale
Université Grenoble Alpes Electronique, Electrotechnique, Automatique, Traitement du Signal (EEATS)
Directeur de thèse
DRT/LETI/DCOS/SCMS/LCMC
Personne à contacter par le candidat
BLARD François CEA DRT/DCOS//LCEF CEA / LETI Département Composants Silicium Laboratoire Caractérisation Electrique et Fiabilité 17, rue des Martyrs 38054 Grenoble Cedex 9 0438786035 francois.blard@cea.fr
Date de début souhaitée10/01/2024

Go back to list